Título: Journey to Data Quality
Autores: Yang W. Lee, Leo L. Pipino, James D. Funk y Richard Y. Wang
Editorial: The MIT Press
Idioma: Inglés
ISBN-10: 0262122871
ISBN-13: 978-0262122870
Formato: Papel
Páginas:280
Fecha de edición: 1 de octubre de 2006
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