La novedad fue dada a conocer por el portal de noticias de la Universidad de Tel Aviv, Israel, que incorporó un nuevo estudio basado en la fragilidad de los chips biométricos embebidos en documentos de identificación y portabilidad personal tras ser abiertos o expuestos a fuentes perturbadoras con fines de hacking.
Este estudio fue encabezado por el profesor en Ciencias Avishai Wool y su equipo de estudiantes, quienes en conjunto realizaron una serie de pruebas para determinar el nivel de lasitud de esto circuitos embebidos en documentos tales como pasaportes y tarjetas bancarias. Durante la demostración de su trabajo de investigación se señaló a las actuales soluciones biométricas incorporadas en los documentos de identificación personal e incluso de tarjetas bancarias, presuntamente desarrolladas para elevar el nivel de seguridad de las personas.