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CISC Semiconductor lanza una herramienta de evaluación de tags de RFID con tecnología de National Instruments

RFID Measurement & Evaluation Test System (MeETS), como se llama la nueva herramienta, se dirige a todo agente relacionado con el mundo de la RFID, desde fabricantes de tags a usuarios finales o laboratorios.

Para CISC existen tres pasos básicos para determinar el funcionamiento correcto de un tag: primero, decidir el tipo de tag correcto; segundo, determinar cuál es su mejor posición sobre el objeto; y tercero, asegurarse de su comunicación con el lector. MeETS cubre los dos primeros pasos.

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