Sun Microsystems ha unido su centro de pruebas RFID con su centro avanzado de productos (Sun Advanced Product Testing-APT), un laboratorio de pruebas ambientales, para cubrir la creciente demanda para realizar pruebas de soluciones de sensores y RFID multi-fabricante en condiciones extremas o condiciones ambientales del mundo real.
Sun está reorganizando el centro de pruebas RFID en su laboratorio Sun APT, con sede en Colorado, para incorporar la capacidad de realizar pruebas de soluciones de sensores y RFID bajo condiciones ambientales adversas, tales como exceso de calor y frío, vibraciones, humedad, descargas eléctricas, altitud y presión. La nueva instalación se llama Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors (Laboratorio Avanzado de Prueba de Productos para Sensores y RFID).
Empresas de todo el mundo han utilizado el centro de pruebas RFID de Sun para simular miles de despliegues de sensores y de RFID con el objeto de verificar qué soluciones multi-fabricante son interoperables y cubren las regulaciones y estándares técnicos de la industria.
El nuevo Laboratorio APT para Sensores y RFID de Sun será reubicado en el centro APT de Sun existente en Colorado, que cuenta con operaciones adicionales en el campus Louisville de Sun en Denver. El centro, que comenzará sus operaciones inmediatamente, es el primero en combinar pruebas de estrés ambiental con pruebas de compatibilidad de interoperabilidad y estándares.
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